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環(huán)境試驗設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、判定和其他簡單介紹
日期：2024-12-21 18:11
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摘要：
環(huán)境試驗設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、判定和其他簡單介紹
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| 技術(shù)資料 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 一、概況 環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，環(huán)境試驗方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實(shí)施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗設(shè)備，而要達(dá)到這一要求，就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。 我國的環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”)起草、發(fā)布、實(shí)施于二十世紀(jì)八十年代中期。貴公司所要的標(biāo)準(zhǔn)都可以去“國標(biāo)網(wǎng)”上去查一查,那上面有你全部你所需要的資料.我這里就把我們平常的一些參數(shù)供貴公司參考. 二、環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn) 1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項： GB10586-89 濕熱試驗箱 技術(shù)條件 GB10587-89 鹽霧試驗箱 技術(shù)條件 GB10588-89 長霉試驗箱 技術(shù)條件 GB10589-89 低溫試驗箱 技術(shù)條件 GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 GB10591-89 高溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 GB10592-89 高、低溫試驗箱 技術(shù)條件 GB11158-89 高溫試驗箱 技術(shù)條件 GB11159-89 低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題 1)適用范圍 在上述的九項標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家，對該標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。 2)適應(yīng)性 按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)中對試驗設(shè)備的要求，按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。 3)操作性 設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時，該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。 4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處 九項設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。 3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項 1)對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項 A)溫度：15℃~35℃ B)相對濕度：不大于85%RH C)大氣壓強(qiáng)：86Kpa~106Kpa D)熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射 E)氣流：無強(qiáng)烈氣流，需要時不可直接吹到箱體上 F)電磁場：無強(qiáng)烈電磁場 G)三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì) H)冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa I)加濕水源：電阻率不低于500Ωm J)電源：220±22V 、380±38V、50±0.5Hz 2)負(fù)載要求： A)負(fù)載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗除外) B)負(fù)載條件： -------負(fù)載總質(zhì)量：50~80Kg/m3 -------負(fù)載總體積：不大于工作室容積的1/5 -------阻擋主風(fēng)道總面積：不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3 -------鹽霧試驗設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊(1~2)mm -------種類：金屬 -------樣品數(shù)：160塊/m2(工作室水平面面積計) 三、 環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗設(shè)備) 1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項： GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備 GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備 GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備 GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備 GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備 GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備 2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個共同問題 1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍：在六項方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時檢定項目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點(diǎn)數(shù)量、布點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。 2)適應(yīng)性：按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗。 3)操作性：本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。 3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點(diǎn)： 1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時應(yīng)與總則一起使用。 2)對于復(fù)合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用 3)檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。 4)負(fù)載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。 四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析
五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗方法標(biāo)準(zhǔn)的對應(yīng)選擇 1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗方法確定環(huán)境試驗設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗的復(fù)合試驗箱需執(zhí)行多個設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。 2、根據(jù)試驗方法要求，對設(shè)備進(jìn)行周期檢定時，可選用一個或多個檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對試驗設(shè)備進(jìn)行檢定。 3、幾種常用的不同試驗方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
六、進(jìn)行環(huán)境試驗過程中的幾個注意點(diǎn) 1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度 2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對設(shè)備主性能的影響 3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件 4、適當(dāng)選擇試驗的嚴(yán)酷度 七、結(jié)束語 通過對環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析，兩類標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨(dú)立性，但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此，準(zhǔn)確理解兩類標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍，熟悉兩類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異，是我們準(zhǔn)確貫徹、切實(shí)執(zhí)行兩類標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們在今后的事業(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。 附1 環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)對測試用負(fù)載條件 匯 總 表
附2 我國環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中設(shè)備使用基本環(huán)境條件 對照表
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