溫度沖擊試驗和循環(huán)試驗對照
溫度沖擊試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家**標準要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
目的 加速應(yīng)力試驗 加速壽命試驗 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(ESS)
試驗標準 MIL-STD-202 Method 107 IEC60749-25
JEDEC JESD22-A104-b IEC68-2-1
MIL-STD-2164-85
試驗方法 溫度沖擊試驗 溫度循環(huán)試驗 溫度循環(huán)試驗
試驗環(huán)境 比使用環(huán)境更嚴酷 極限使用環(huán)境 極限使用環(huán)境
試樣 零部件 元器件，焊點(BGA，CSP) 成品
試樣尺寸 小 小 比較大
試驗溫度范圍
-40(-55)～125(150)℃ -40(-65)～125(150)℃ -40(-0)～100℃
溫度變化率
1槽法：大于30℃/分鐘 空氣
2槽法：大于50℃/分鐘 空氣
1槽法：小于15℃/分鐘 試樣
1槽法：小于20℃/分鐘 空氣
加速系數(shù) 100～500倍 比加速試驗加速系數(shù)小 10～20倍
試驗結(jié)果 設(shè)計信息 設(shè)計信息 生產(chǎn)品質(zhì)差異驗證
溫度沖擊試驗：
升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時試驗嚴酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。
溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的差異主要是應(yīng)力負荷機理不同。溫度沖擊試驗主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
溫度沖擊試驗容許使用二槽式試驗裝置；溫度循環(huán)試驗使用單槽式試驗裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要大于50℃/分鐘。
引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。
加速應(yīng)力試驗：加速試驗是使用比在實際環(huán)境中更短的時間，對試驗樣品進行的加速試驗，以考察其失效機理。試驗的加速就是采用加大應(yīng)力的方法促使試驗樣品在短期內(nèi)失效，。但是必須注意避免其它應(yīng)力原因引起的失效機理。
溫度循環(huán)試驗：
溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設(shè)的高低溫交替的試驗環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響，試驗時的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時，為達到蠕變及疲勞損傷的效果，推薦試驗溫度循環(huán)為25℃～100℃，或者也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗，曝露時間為各15分鐘。
環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(ESS= Environmental Stress Screening)：
對產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快暴露而予以剔除。ESS不是加