電子元器件常用的可靠性試驗(yàn)的分類方法很多。按試驗(yàn)?zāi)康膩?lái)分，可分為可靠性鑒定試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、篩選試驗(yàn)、耐久性試驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。按實(shí)驗(yàn)地點(diǎn)來(lái)分，可分為現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)和模擬試驗(yàn)（試驗(yàn)室試驗(yàn)）。按試驗(yàn)項(xiàng)目來(lái)分，則可分為環(huán)境試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)、特殊檢測(cè)和壽命試驗(yàn)等。也有按所施加應(yīng)力情況來(lái)區(qū)分的各種可靠性試驗(yàn)。
     

      雖然可靠性試驗(yàn)門類很多，不同試驗(yàn)都能采集到不同的數(shù)據(jù)，但它們都反映了在不同階段、不同考核對(duì)象的可靠性水平，是否達(dá)到了預(yù)定的可靠性指標(biāo)?？煽啃灾笜?biāo)實(shí)際上就是可靠性試驗(yàn)的失效判據(jù)。采用不同的失效判據(jù)，其可靠性評(píng)價(jià)的結(jié)果就會(huì)不同。為了通過(guò)可靠性試驗(yàn)準(zhǔn)確地對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)，除了要**的確定失效判據(jù)外，還要注意正確的選用抽樣方法和選用合適的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。下面就是對(duì)失效判據(jù)、抽樣方法和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行介紹。
失效判據(jù)
   在進(jìn)行可靠性試驗(yàn)前，首先要確定好失效判據(jù)。由于失效的判據(jù)不同，試驗(yàn)結(jié)果也會(huì)有不同，為此必須做出合理的失效定義（制定失效判據(jù)）。
     失效一般分兩種，即致命性失效和非致命性失效。致命性失效如斷路、短路和嚴(yán)重喪失功能。非致命性失效如漂移失效（漏電流、互聯(lián)線電阻增加、電源電壓下降）。這將取決于退化的程度不同，失效形式也不同，把參數(shù)退化到什么程度判定為失效，即失效判據(jù)不同，可靠性試驗(yàn)的評(píng)價(jià)結(jié)果也會(huì)有明顯的不同。所以，如何確定失效判據(jù)應(yīng)該非常慎重。
      確定失效判據(jù)一般有兩種考慮，一是從滿足工作電流，工作條件的角度來(lái)判定試驗(yàn)對(duì)象的容限值，二是從產(chǎn)品可靠性可以控制的角度來(lái)確定其極限值。對(duì)**種情況，是使用方從對(duì)器件性能的需求來(lái)考慮的；對(duì)與**種情況，則是生產(chǎn)方從器件中的失效物理出發(fā)，根據(jù)其失效模式，失效機(jī)理來(lái)確定失效判據(jù)。實(shí)際上，這兩種考慮應(yīng)該兼顧，在我們常用的各種技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中，都兼顧到了這兩方面的考慮。
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